近日，浙江省市場監(jiān)督管理局正式公布了首屆浙江省知識產(chǎn)權獎的獲獎名單，我司核心發(fā)明專利“ZL202011244319.0晶圓的測試方法、晶圓測試機、電子裝置和存儲介質”（以下簡稱發(fā)明專利）榮獲專利知識產(chǎn)權獎三等獎，此獎項是我司獲得的第一個專利專項獎。

浙江省知識產(chǎn)權獎是浙江省首次以省政府名義設立的全門類知識產(chǎn)權綜合獎，每3年評審1次，下設浙江知識產(chǎn)權大獎、專利獎、商標獎、版權和其他知識產(chǎn)權獎，旨在表彰激勵在知識產(chǎn)權強國建設先行省工作中做出突出貢獻的單位和個人。獲此獎項，是對我司知識產(chǎn)權建設情況的認可與肯定。

本發(fā)明專利技術由我司自主研發(fā)獲得，從一種全新的角度提出了一種晶圓的測試方法，解決了在晶圓測試領域出現(xiàn)的MAP圖刷新效率低、裸片測試效率低的問題, 具有極強的技術優(yōu)勢，提升了我司在測試晶圓市場的產(chǎn)品競爭力。同時，本發(fā)明專利也可用于涉及大數(shù)據(jù)查找算法的場景，市場前景廣，競爭力強。

本發(fā)明專利具有較強的技術實用性，我司已成功對本發(fā)明專利進行技術轉化并大規(guī)模應用，目前已成功應用于CTA8280系列的模擬測試機，未來也可用于其它測試晶圓和刷新MAP圖的產(chǎn)品，如SoC測試機等。

本發(fā)明專利的發(fā)明人為董雨晴、副總經(jīng)理鐘鋒浩、鐘丹彪，三位長期專注于半導體測試領域的研發(fā)工作，為我司在測試領域的技術創(chuàng)新與積累做出了卓越貢獻。在此次獎項申報過程中，他們竭盡所能提供技術指導，最終獲獎也離不開他們的大力支持！

近年來，我司大力推進知識產(chǎn)權強企建設，制定了知識產(chǎn)權創(chuàng)造、運用、保護、管理和服務等一系列知識產(chǎn)權管理機制，充分保障知識產(chǎn)權工作落實到位。我司圍繞核心技術構建專利池，并在外圍有計劃的進行專利布局，形成了一道道專利網(wǎng)，對公司的核心技術進行了有效保護，促進了公司高價值專利布局的戰(zhàn)略實施。

未來，我們將繼續(xù)全面深入開展知識產(chǎn)權工作，落地中長期發(fā)展規(guī)劃，為實施創(chuàng)新驅動發(fā)展戰(zhàn)略提供有力支撐，同時也為“把長川科技打造成為國際一流的集成電路裝備供應商”的戰(zhàn)略目標提供強力保障。